近年、半導体、電池、コンデンサーなど幅広い分野で用いられる電子デバイス材料の評価における構造解析および微量成分分析は、製品開発・品質管理において非常に重要視されています。今年9月に開催しました「電子材料分析Webセミナー2022」では、このような状況におけるソリッドネブライザーICP-MS、赤外・ラマン分光、FIB電子顕微鏡といった多角的な分析技術を用いた電子材料の微量元素分析と構造解析の幅広い分析ソリューションについて、最新情報と実際の分析事例をご紹介しました。大変ご好評をいただいたこともあり、オンデマンド配信を実施する運びとなりました。あわせて、今年3月に開催しました「化学工業分析フォーラム2022」の一部の講演もご視聴いただけます。この機会にぜひご活用ください。
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